Рассматриваются основные теории, критерии и количественные характеристики надёжности электронных средств измерений. Большое внимание уделено оценке количественных характеристик надёжности интегральных микросхем, индикаторов, трансформаторов, коммутирующих устройств, полупроводниковых приборов, резисторов, конденсаторов, печатных плат.

Формат: DjVu (Программа просмотрщик входит в комплект!)

Сразу же после оплаты вы получите ссылки на скачивание товара.